PBGA封装的建议返修程序.docx
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1、PBGA封装的建议返修程序封装描述PBGA是一种封装形式,其主要区别性特征是利用焊球阵列来与基板(如PCB)接触。此特性使得PBGA相对于其他引脚配置不同的封装形式(如单列、双列直插、四列型)有一个优势,那就是能够实现更高的引脚密度。PBGA封装内部的互连通过线焊或倒装芯片技术实现。包含集成电路的PBGA芯片封装在塑封材料中。图1. PBGA器件示意图PBGA器件返修将PBGA器件装配到PCB上之后,若发现缺陷,应当返修以移除不良器件,并换上工作正常的器件。移除器件之前,应加热不良器件直至焊接接头液化,以便于从电路板上移除不良器件。常规返修程序如下:1. 准备板子。2. 移除器件。3. 清洁P
2、CB焊盘。4. 涂敷焊膏。5. 器件对齐和贴片。6. 固定器件。7. 检查。移除器件和分层移除器件时,可能会在PBGA和/或PCB上产生机械应力。应小心移除不良器件,避免损伤PCB、邻近器件及不良器件本身,尤其是若用户打算对不良器件进行故障分析时。PBGA器件上若有过大应力,例如将器件加热到额定峰值温度以上或过度暴露于高温下,可能导致封装分层或外部物理损坏(参见图2和图3) o对于要做进一步分析的器件,移除不当所引起的分层会加大找出真正故障机制的难度。因此,为了进行有效的故障分析,妥善移除不良器件是十分必要的。图2.过度加热引起PBGA器件的基板和塑封材料之间分层(通过扫描声学显微镜观测)CR
3、ACK图3.过度加热导致PBGA上出现裂纹的低放大率图像(侧视图)准备板子强烈建议在返修开始前对PCB组件进行干烘,以消除残留水分。若不消除,在回流期间,残留水分可能会因为“爆米花效应”而损伤器件。在125。C下烘烤PCB组件至少4小时,只要这些条件不超过PCB上其他器件的额定限值。如果这些条件超过其他器件的额定限值,则应使用联合行业标准IPC/JEDEC J-STD-033中说明的备选烘烤条件。移除器件可使用不同的工具来移除器件。为了移除器件,可能要加热器件,直至焊料回流,然后在焊料仍处于液态时通过机械手段移除器件。可编程热空气返修系统可提供受控温度和时间设置。返修时应遵循器件装配所用的温度
4、曲线。返修温度不得超过湿度灵敏度等级(MSL)标签上规定的峰值温度。加热时间可以缩短(例如针对液化区),只要实现了焊料完全回流即可。焊料回流区处于峰值温度的时间应小于60秒。拾取工具的真空压力应小于0.5 kgcm2,以防器件在达到完全回流之前顶出,并且避免焊盘浮离。请勿再使用从PCB上移除的器件。控制返修温度以免损坏PBGA器件和PCB。应当考虑由于热质量不同,相比基于引线框的封装,例如标准外形集成电路(S01C)和引线框芯片级封装(LFCSP),PBGA的加热速度可能更快。注意,用耐热带盖住器件周围的区域可提供进一步的保护。此外,建议加热PCB下方以降低PCB上下两面的温差,使板弯曲最小。
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