怎样对DFMEA探测度进行评分.docx
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1、怎样对DFMEA探测度进行评分DFMEA的探测度是从设计验证的探测措施的有效性角度进行分析的,越容易发现设计缺陷或薄弱环节,探测度的分值越低。没有力M失依式或失效&而福第增妆计测也不电毒化试方法一不IOM1失就*1*化I0i涉不出1列试失效重试中话说前两天有朋友问,最近我们部门部分人对DFMEA的探测度打分的逻辑产生疑问,您能帮忙讲讲探测打分逻辑吗?这是我们的探测度,请您帮忙看看?很多技术专家都认为2和4应该换下位置?Wi丈方法.微制过ItiiE出山不igcR已收Z的IaS潴,谖方;却肝功始证成馆惠Kft,可IItI以及加久任认;H试计9时间在产品开发M内咬迟.B累窟区关敷椁/ttBVHBit
2、.箭井(BIUE产罐沼.己m的IiQ法,渡方法耐力电快电喊慢IK.M.可W1UAiH久性认;充分,可以在开g*Ni修改生产工.之电XE证再不会囹现切式或失她艮因,友畲探M法经6(险证启JIW烟用班戒格式近实效配图.先说我的观点,我认为之所以会出现这样的争论,原因没有搞清楚DFMEA设计验证探测措施的时间、成熟度和探测机会。DFMEA的探测措施是从设计验证措施的有效性角度进行分析的,4分是通过不通过的验证,看上去这种验证非常的快,我们可能就认为这种方法容易探测,分值更低。这是错误的,我们的DV设计验证,不是检验,不是检验产品是否合格,是评价设计验证的手段,是否能发现设计的缺陷或薄弱环节,通过/不
3、通过的测试通过了,就认为验证通过了,但很有可能没有充分验证。而失效测试的验证,老化测试才能更充分地发现失效,发现设计的薄弱环节,所以打分更低一些。探测度评估表分为探测能力、探测方法成熟度、探测机会等方面进行综合评估。探测能力包括了非常低、低、中、高、非常高,从这个角度评分的可操作性并不大。隆柒Vm侬坦脚未定9械方法Hr低祝行为君失加!式或失效忠因耐创地设计hIfti中不通过JK1失她试.老化试方法Mt斯费试方法,意租过险还通过不通过承1失效看试.毒化低性IrM.可性以RA久性U.MM1tMtrm内皿IMMMnw通且不Ift退费武UMrtttt.MrMMEtt8.BttMMacnt.WMMmMt
4、tttat通过不出寓试.住.SmtOMI久性U.HIE充分,可以在开始生产之梆生产工I1失期Ra老化出9IiS之匍常忒证审不会出现失效横式或失期M组或t血防法幄过实Im证总是W,费朝失如式或失效起因.探测方法的成熟度可以区分为设计冻结前、设计冻结后、新测试方法和没制定测试方法等四个类别。下载后可删除,显示全部内容第四类是没有制定测试方法,就是没有为探测失效模式或失效原因而特别制作测试方法,可以评为9,10分。肯定有同学要问了,设计冻结前的测试评为2,3,4分,设计冻结后的测试评为5,6,7分,那2-4分,5-7分具体如何区分呢?探测机会的评价,是从设计验证措施的有效性角度进行分析的,在设计冻结
5、前的通过;不通过的测试评为4分,试验到失效评为3分z老化测试评为2分。尚未制=*非常低想有为阳失处配因而特别飨俎1过/不也就失Ma1者化胆小MUHie1失效施1抬化春试中已腰依证的i眼方法,通方法用于功tt南ISE性*M.W性以2HM久性5.KCittt时跖在产枝开发冏网网8B.叫事制武失败将号it新&K.陆开IUm生产片火.11,不iftS武者化耽已发却=方法,谀方法用于功性验证或n.M.蜉&以反财久&WA,ItWWff1充分.可以防她生产之蒯3t生产工装.提Hfh2宏化之附利试不a失式但墟因,成着阳S法收过实giiteW有同学说,4分是合格或不合格的测试,这种方法验证得非常快,认为这种方法
6、更容易探测,探测度分值应该更低。这种说法是错误的,我们的DV设计验证测试,不是检验,不是快速检验产品是否合格。是评价能否发现设计缺陷或设计的薄弱环节的能力。假设经过通过;不通过的测试后,我们就认为产品验证结束了,很可能没有完全验证到设计的薄弱环节。比如我们设计一个电源,输出电压为24V(18-28)z我们根据设计图纸制作了一个样件进行设计验证,样机功能测试结果为20V,结果在18-28V之间,我们就认为设计验证测试通过了吗?如果我们认为设计验证通过,可以评为4分。其实这种风险是非常高的,功能输出电压是达成了目标值了,但200小时后电压还能满足要求吗?是不是会随时间而衰退呢?在寒冷的天气下或高温
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