基于测试系统的FPGA测试方法研究与实现.docx
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1、基于测试系统的FPGA测试方法研究与实现1引言目前FPGA大多采用基于查找表技术,主要由可编程输入/输出单元(IoB)、可编程逻辑单元(C1B)、可编程布线资源(1)、配置用的S幽、B1OCkRAM和数字延迟锁相环(D11)等部分组成。对FPGA进行测试要对FPGA内部可能包含的资源进行结构分析,经过一个测试配置(TC)和向量实施(TS)的过程,把FPGA配置为具有特定功能的电路,再从应用级别上对电路进行测试,完成电路的功能及参数测试。2FPGA的配置方法对FPGA进行配置有多种方法可以选择,包括边界扫描配置方法、XiIinX公司专用的SPI/BPIF1ASH配置方法、SystemKE配置方法
2、、CP1D+第三方F1ASH配置方法、系统直接加载配置向量的配置方法。边界扫描方法主要适合在线配置调试用,XiIinX专用FIaSh配置方法,每次只能在F1ASH中存储一段配置码,不适合反复配置测试过程。SyStemACE方法需要专门的SyStCmACE控制芯片和CF卡,应用比较麻烦。比较适合系统测试的主要是后两种方法。2.1测试系统直接配置方法当采用的测试系统比较高级,比如radyne公司的U1traF1EX,该系统测试频率高达500MHz,测试通道数多达1024个,测试向量深度可达128M,可以使用系统直接加载二进制配置向量对FPGA进行配置。能够在同一个操作流程中完成FPGA遨t的多次“
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