在FPGA中实现嵌入式逻辑分析仪的系统开发与调试应用.docx
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1、在FPGA中实现嵌入式逻辑分析仪的系统开发与调试应用随着逻辑设计复杂性的不断增加,在计算机上以软件方式的仿真测试变得更加耗费时间,而不断需要重复进行的硬性系统的测试同样变得更为困难。为了解决这些问题,设计者可以将一种高效的硬件测试手段和传统的系统测试方法相结合来完成,这就是嵌入式逻辑分析仪的使用。它主要用于分析数字系统的检测和故障诊断问题,是数据域测试中一种非常有效的测试方法。它可以随设计文件一并下载于目标芯片中,用以捕捉设计者感兴趣的目标芯片内部信号节点处的信号,而不影响原硬件系统的正常工作。本文介绍SignaITapII逻辑分析仪的基本用法及其在蚂中一个典型的应用实例。1. Signa1T
2、apII基本用法嵌入式逻辑分析仪SiRnaITapII在对系统硬件模块进行监测时,是将测得的样本数据暂存于目标器件的幽中,然后通过器件的JTAG端口和ByteB1asterII下载线一起将样本数据信息传出并送入计算机进行数据分析。Signa1TapH允许对设计中所有层次模块的信号进行监测,可以使用多时钟驱动,还能通过设置用以确定前后触发信号信息的比例。其使用方法步骤如下:(1)打开Signa1TapI1编辑窗。选择ToO1中的Signa1Tap1OgiCAnaIyZer项,或者选择FiIe中的NeW项,在NeW窗口中选择OtherFiIeS中的SignaITapIIFi1e,单击OK按钮,即出
3、现图1所示编辑窗。(2)调入待测信号。注意在调入信号前需给该信号组取名,可通过InStanCe栏内的AUtOSigna1Tap_0处单击即可。其次,调入待测信号,在InStanCe栏的下栏空白处双击即可,如图2所示。在窗口中,点击1iS3在NodesFOUnd中就出现所有的待测信号,选择所要测量的信号,点击OK就完成了。在调用信号时,不要过多的调用没有实际意义的信号,这样会导致芯片资源的浪费。(3)相关参数设置。参数的设置正确与否是使用Signa1TapII的关键。从前面我们已经知道,Signa1TapII将采样的样本存于RAM中,参数设置就是设定采样的特征信息和采样数据样本的大小等参数,采样
4、的特征信息包括采样时钟的采样的速度、触发形式和采样的深度,即采样样本存放于RAM中的点数以及RAM的大小等相关设置。参数设置过程如下,首先,在图1的SignaI栏中,点击C1OCk即可设置采样时钟。采样时钟的快慢影响我们所观察的信号的质量,所以要灵活、合理选择。采样时钟不是越快越好,当我们要观察一些慢速信号或干扰信号的时候,太快就适得其反。其次,设置采样深度。采样深度越深我们观察到的点数就越多,当然是越多越好,但是由于受RAM的大小限制,我们设置的采样深度不可能太深。特别是在采样信号比较多的时候,我们要综合考虑这些因数,设置我们的采样深度,以免发生RAM不够用的情况。再次,根据待测信号的要求,
5、在BUfferAcquisitionMode框的CirCUIate栏设置采样起始触发位置。最后,设置触密柔件,在Trigger中用于选择出发级数,如两级触发,就要在两个触发条件都满足的条件下才能得到触发;在下面的Trigger框中选择触发信号和触发形式,触发形式有上升沿、下降沿等触发供选择,当选择的触发信号满足了所设置的触发形式的时候,就开始采样。Im*。iU,.V/ww.cfdiyxdm(4)保存。在完成以上的步骤之后,点击保存,出现“Doyouwanttoenab1eSigna1TapIIw,选择是就表示再次编译的时候将Signa1TapII与工程捆绑在一起综合,并通过下载适配器一起下载到
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