LED封装工程师的个人调研总结.docx
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1、1ED封装工程师的个人调研总结导读:今天开始,小编要跟大家分享一位1ED封装工程师的调研个人总结,总结分为五个部分呈现:一.材料和配件:二.封装结构;三.失效模式;四.HV-AC芯片;五.COB,SIPo希望这个分享可以让你有所收获,下面请看第一部分。标签:1ED封装1ED支架硅胶1ED荧光粉失效模式一.材料和配件封装配件:透镜,支架,键合线封装材料:固晶胶,密封胶,荧光粉1ED支架PB均值(倍)PPA高温尼龙,耐温更高,吸湿更少,热稳定,光稳定,热变形温度约在300度,可过回流焊肯定没问题共晶焊制程,基本也能承受共晶焊1CP塑胶支架,液晶树脂,可满足温度高的共晶焊,有长期耐黄变性,但无法做到
2、PPA能的白度,初始亮度较差而无法大量推广。陶瓷1ED支架散热性好,价格较为昂贵,约为PPA支架的10倍支架镀银:提高光反射率失效模式:银层与空气中硫化氢、氧化合物、酸、碱、盐类反应,或经紫外线照射,发黄发黑,并导致密封胶和支架剥离。键合线金线:电导率大、耐腐蚀、韧性好,最大优点是抗氧化,常用键合线金银合金线:适用于1ED直插和SMD产品封装焊线镀钳铜线:适用于1ED直插和集成电路封装焊线铜线:高纯铜,适用于功率器件封装焊线,价格金线10%-30%,电导热导机械性能,焊点可靠性大于金金线失效模式,虚焊脱焊,工艺不当,芯片表面氧化和铝的金属间化合物:“紫斑(AUA12)和“白斑”(Au2A1),
3、AU和A1两种元素的扩散速率不同,导致界面处形成柯肯德尔孔洞以及裂纹。降低了焊点力学性能和电学性能铜线失效模式:铜容易被氧化,键合工艺不稳定硬度、屈服强度等物理参数高于金和铝,键合时需要更大的超声能量和键合压力,硅芯片造成损伤。透镜1硅胶透镜:耐温高(可过回流焊),体积较小,直径3T0mm2 .PMMA透镜:光学级PMMA(聚甲基丙烯酸甲酯,即亚克力),塑胶类材料优点:生产效率高(注塑);透光率高(3mm时93%);缺点:耐温差(热变形温度90度,PMMA灯罩须增加光源和灯罩的距离,或降低光源功率)。3 .PC透镜:光学级尼龙料(PC)聚碳酸酯,塑胶类材料优点:生产效率高(注塑);耐温高(13
4、0度以上);缺点:透光率稍底(87%)。4 .玻璃透镜:光学玻璃材料,具有透光率高(97%)耐温高等特点缺点:易碎、非球面精度不易实现、生产效率低、成本高等。一次透镜:PMMA,硅胶二次透镜:PMMA,玻璃灌封胶,固晶胶灌封胶作用:1 .对芯片进行机械保护,应力释放2 .一种光导结构3.折射率介于芯片和空气之间,扩大全反射角,减少光损失硅胶按分子链基团的种类分:甲基系有机硅胶(大部分,耐侯性更好)苯基系有机硅胶(成本高,折射率更好)按使用领域分:透镜填充硅胶1ED固晶硅胶按硫化条件分:高温硫化型1ED硅胶(聚硅氧烷,分子量4080万)室温硫化型1ED硅胶(分子量36万,双组分和单组分包装)硅胶
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