基于单片机和FPGA的频率特性测试仪的设计.docx
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1、基于单片机和FPGA的频率特性测试仪的设计在学习电子线路、信号处理等蚯类课程时,高校学生只是从理论上理解真正的信号特征。不能真正了解或观察测试某些信号。而幅频特性和相频特性是信号最基本的特征.这里提出了基于单片机和相GA的频率特性测试仪的设计方案,可使学生在实践中真正观察和测试信号的频率特性。设计方案该系统设计采用扫频测试法。设频率响应为H(js),实系数线性时,不变系统在正弦信号X(n)=Acos(n)的激励下的稳态输出为y(n)。利用三角恒等式,将输入X(n)表示为两个复数指数函数之和:%(n)=g(n)+g*(n)式中:g(几)二;Aexp(J)exp(少号M若输入为exp(j3On),
2、线性时不变系统稳态输出为H(exp(jOn)exp(jOn)0根据线性性质可知,输入g(n)的响应v(n)为:同理,输入g*(n)的输出为v*(n)是V(I1)的复数共粗。于是输出y(n)的表达式:由上可知,当系统在正弦信号的激励下,输出响应达到稳态,这是与输入激励信号频率相同的正弦波,响应信号与激励信号幅值比为该频率的幅频响应值,而两者的相位差为相频特性值。因此采用扫频法测量频率特性。以单片机和FPGA为核心,利用FPGA通过DDS合成得到且频率由单片机控制的正弦波作为扫频信号,将其输入至待测网络,由峰值检波电路分别测量各扫频信号对应的输入网络信号和输出网络信号,并由其比例关系求得待测网络的
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