01-CBT2423.1-2008低温操作指导书_.docx
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1、方法标准作业指导书E1T/ZD-4-1低温试验分发号状态正本/副本版本A/O2018-6-8发布编制:审核:批准:2018-6-8实施目的为了规范实验室的技术管理工作,指导试验工作的正确开展,确保试验结果的有效性和可靠性,更方便快捷的为客户提供相关技术服务,特编制本作业指导书。1试验依据GB/T2423.1-2016电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温2试验设备环境试验箱(-40150使用范围)3测试时间根据测试严酷等级决定。4测试步骤4.1根据测试样品是否散热以及通电性,确定测试样品应选择以下试验Ab、Ad、Aeo具体见图U测试过程中试验箱内的温度变化速率不应超过IK/min图
2、1试验A:低温试蛉方框图4.2检查设备状态,确认设备满足试验要求。工作空间应能完全容纳测试样品4.3测试样品将目视检查以及相关规范要求的性能检测。4.4试验Ab:非散热试睑样品温度渐变的低温试验4.4.1将试验样品放入温度为实验室温度的试验箱中,然后将温度调节到符合相关规范规定的严酷等级温度。4.4.2当试验样品达到稳定后,在该条件下暴露到规定的持续时间,对于试验时需要通电运行的试验样品,应在试验样品温度达到稳定后通电,根据需要进行功能检测,这种情况下,可能还需要一段时间达到温度稳定,然后试验样品在该低温条件下暴露到相关规范规定的持续时间。4.5试验Ad:散热试验样品温度渐变的低温试验一一试验
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