台式X射线荧光镀层检测仪（XDL230）操作规程.docx

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1、x射线荧光测厚仪fisherscopex-rayxd1230操作规程一.仪器用途X射线荧光测厚仪F1SCHERSCoPEX-RAY用于测量涂镀层厚度及成分，分析合金成分，测量镀液主盐离子浓度。二.开机及关机步骤1 .开机步骤（1）开启仪器电源；（2）开启打印机和计算机；（3） 5分钟左右后打开高压钥匙开关（仪器长时间不用特别是冬天，要3060分钟后打开高压钥匙开关）；警告：为了避免仪器损坏，在较长时间（如春节长假）停机后重新开机前，如果环境温度低于IOeC,建议先提高环境温度到室温20,然后开启仪器电源，过30-60分钟后再开启钥匙开关，进行正常的操作。（4）打开FTM软件，按“确定”完成开机

2、步骤。2 .关机步骤（1）关闭FTM软件；（2）关闭高压钥匙开关：（3）关闭仪器电源；（4）关闭计算机及打印机。三.测量准备为了保证测量的精确性和稳定性，仪器开启后必须进行充分的预热。预热方法如下:完成正常的开机步骤后，点击m30分钟后不按动图标停止测量，再按动图标进入“光谱”子程序。按动员测量图标开始不间断测量。1图标退出“光谱”子程序后，即完成预热过程。3 .测量基准注意：这个步骤非常重要。注意：在进行测量基准之前，必须先预热仪器。因为仪器是以元素Ag为基准进行测量的，所以必须精确定位元素Ag的位置，不能偏移。一般说来，一个星期做一次“测量基准”就可以了。（最好可以每天都做）（仪器是以Ag

3、为基准，如果Ag的光谱偏移了，则其它金属元素的光谱也跟着偏移）注：Ag的光谱在169-171o测量基准步骤如下：1）将元素Ag置于工作台上，调整其位置并聚焦清晰，使其清楚显示在视频窗口十字线中央。2）选择菜单“一般一-测量基准”，按动“开始测量基准”按钮开始测量基准。3）Ag测完之后，会提示放入原素Cu,（将元素CU置于工作台上，使其显示在视频窗口十字线中央。在按确定。4）测量基准结束时，显示“基准测量完成，接受？”信息，按“确定”完成测量基准。（如果显示“不需要做基准测量”信息，则按“确定”，再按“取消”退出即可。）四.测量校正标准片1 .将标准片（镀银18.70m）置于元素Cu上，调整其位

4、置并聚焦清晰，选择“产品程式”，再选择“测量校正标准片”，按“开始”测量3次，取平均值，误差要求小于5%。2、如果不在误差范围内，拿出标准片，选择“校正”“校正”，根据提示，放入12元素片（Ag）,调整其位置并聚焦清晰,按“开始”。3 .校正完成后，根据提示先测Ag,再测Ciu4 .将标准片置于元素CU上，按“开始”测量3次，修正到18.70m,按“确定二5 .选择“产品程式”、“测量校正标准片”，按“开始”进行校准。五.进行测量1 .完成开机步骤，并进行预热、基准测量及测量校正标准片后，就可以开始测量样品了。2 .进行测量的步骤如下：1）根据待测样品的镀层情况，点击菜单”点击里士S1J或产品

5、程式一-选择.”选相应的产品程式。2）将样品置于工作台上，调整其位置并聚焦清晰，使其清楚显示在视频窗口十字线中央。3）按显示屏左下角的按钮“开始（s）”或仪器控制台上的“START”键开始测量，倒计时结束后即完成一次测量。测量注意事项：1）测量时间的选择。测量时间越长稳定度越好。一般来说，单镀层不少于15秒，双镀层和合金比例测量时间不少于30秒，三镀层测量时间不少于45秒，镀液主盐离子浓度测量时间在30-60秒之间。2）样品放置原则必须正确放置样品（详细见仪器使用说明），保证X射线荧光不受干扰地到达探测器。3）如果测量结束后，出现“错误：不能测量”及“错误：光谱无效”信息，此时应进行如下操作：

6、A：检查所测样品镀层情况是否与所选择的产品程式一致。B：可能接收器受潮，点击这个B把元素Ag置于工作台上，调其位置并聚焦清晰，按动H测试，看测得光谱是不是正常的光谱（和正常的Ag的光谱形状相比较）。C：进行基准测量。D：进行底材修正。4）测量之前应检查待测样品的底材成分与设定的底材是否一致。方法是直接测量底材，如果测量结果偏离零点较大，则应进行底材修正。先进行基准测量后。把底材放在工作台上，选择菜单“调校-底材修正”，当出现“元素：测量产品的底材物料”后，按“确定”进行底材修正即可。图标进入单个数据组报表窗II选择要打印的测量数据组。在五.打印报表1 .打印测量数据1）选择菜单”结果计算一读数

7、组报告”或点击工具栏上的按打印（V3.16版以后的软件和V6版软件）2）选择菜单“文件一一列印”进行打印。如果要打印所有数据的统计结果，则选择菜单”结果计算一一最后报告”，选择菜单“文件一一列印”进行打印操作。（V3.16版以前的软件）六.校正产品程式（要有调校标准片才能做）正确的调校是保证仪器测量精度的必要条件。在调校之前必须充分颈热仪器及进行基准测量。这点非常重要。确定仪器是否应进行调校，可通过测量调校标准片来检验。选择菜单”产品程式一一测量调校标准片”，放置标准片在工作台上，移动标准片测量几次。如果测量数据平均值与标准片之差不符合标准片的精度，则可以进行“归一化”操作。如果归一化后，仍然

8、不符合标准片的精度，则应进行调校。调校步骤：1） 选择要调校的产品程式2） 选择菜单“调校一调校”开始进行“调校”。屏幕左下角的指令窗口会出现下一步的操作指示。按照指示放置相应的金属元素片和底材进行测量；在按提示放入标准片测量三次，轻轻移动标准片三次（如果有多片标准片，按照软件提示依次对应放入测量）。调校结束后，“输入调校标准”窗口出现，按“确定”结束调校。七.注意事项1 .仪器供电电压必须与FISCHERSeoPEX-RAY仪器铭牌上的电压致。仪器必须使用垂插头连到个已接地的插座上。2 .本仪器为精密仪器，建议配备高精度的稳压电源。计算机和仪器应配备不间断电源（UPS）3 .仪器应特别注意与

9、存在电磁的场合隔离开来。4 .仪器适合在1525C的环境温度卜.操作使用，在050*C（32122T）的温度下存放。操作和存放的允许湿度范围在3065%之间（非冷凝，在操作过程中，环境温度和湿度应保持恒定。5 .仪器鼻晒在阳光下时，窗口玻璃后的温度极易超过50C。所以请不要在这样的环境卜操作和存放仪器，以避免高温对仪器造成损害。6 .为避免短路，严禁仪;*1，液体直接接触。如果液体进入仪器，请立刻关闭仪器!并在重新使用前请技术人员全面检查仪器。7 .本仪器不能用于酸性环境和易爆场合.8 .不要弄脏和刮擦元素片或调校标准片！否则会造成读数错误！9 .不要用任何机械或化学的方法清除元素片或调校标准片上的污物！如果必要的话，可以用一块不起毛的布轻轻擦除脏物。