软件使用说明.docx

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1、本软件系统参照了美国ASME和ASTM关于表面测量的标准。根据美国ASME和ASTM关于表面测量的标准，结合显微镜所获得的图像数据的实际，可以认为形貌图是由长波长的WaVineSS和短波长的Roughness构成，而表面特征主要是由Roughness决定。Waviness和Roughness可以由滤波或最小二乘方拟合来分离。ASME和ASTM定义了许多测量参数可以作为表面特征的表达，再加上信号可以从空间域和频域两个方面来观察的考虑，本软件系统采用了许多空间域和频域上定义的与ASME和ASTU标准相容的参数，以可视化的方式从图形、数据多方面努力刻画好、表达好形貌图的特征。内容列表：D软件系统内容

2、清单：视图部分O1一顶视图02一三维视图03游览04多重视图2）软件系统内容清单：分析部分05一剖面分析06一阶梯分析07深度分析08Bearing分析09一颗粒分析10一粗糙度分析11一宽度分析12自相关分析13功率谱分析14一功率谱比较15Bearing比较3）软件系统内容清单：变换部分16图像平整（FIatten）17低通滤波18高通滤波19一清除噪声线20图像缩放（ZOOm）21图像缩放（ReSiZe）22一选择区域截取23图像相减24图像反转25图像旋转26平面拟合（P1a1IeFit）A27一边缘增强27（b）-边缘检测：这主要是为颗粒显微镜分离颗粒准备的28一二维功率谱29高斯滤波即一中值滤波A卫一卷积4T辅助性工具32设置颜色33屏幕输出到文件，到打印机打印输出