仪器内校操作规范.docx
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1、仪器内校操作规范文件编号生效日期页码第1页共5页批准审核作成-序号日期版本/版次帝IJ/修订内容制/修订人11 .目的明确定义公司所有测量/测试之量具、仪器的校验流程、步骤、验收标准,最大限度的延长其使用寿命,最大程度的保障其使用的准确性、精确性。2 .范围2.1 适用于公司内校测量工具:卡尺(包括游标卡尺,带表卡尺,数显卡尺)千分尺,塞尺,高度表,测厚规,百分表千分表等。3 .定义3.1 内校是指公司的内校测量工具,安排具有内校资格证的人员对仪器进行检测和校正,校准周期:6彳Sk月*3. 2外校是指将测量工具和实验设备外送给具有检测资格证的机构进行检测与校正,校准周期:1年一次。4.职责4.
2、1 品保部测量室持有内校员资格证的量具管理员负责内校工作的开展。4. 2采购部联系具有外校检测资质的机构负责外校工作的展开。4. 3送检部门负责仪器的维护、保养以及送测量室进行校正。5.工作内容5. 1检验项目:5. 11确定仪器状态:在用,闲置或者禁用5. 1.2确定当前校准环境(温度、湿度)5. 1.3外观检查;1外观有无刮花碰伤等缺陷2仪器零部件是否齐全3仪器各部件功能是否正常5. 1.4各部位相互作用;5.1.5数值准确度;各量具校准点要求如下(每个校准点需测量三次,记录其平均值):5.1.5.1卡尺校准点如下表:项目规於外爪内爪0300(mm)102041.2081.50121801
3、02041.2050.005.1.5.2千分尺校准点如下表:项目外径测量0-25(mm)5102025-50(mm)3041.245.550-75(mm)51.261.271.25.1.5.3塞尺校准点如下表:项目规整厚度测量0.05-1.00(mm)0.050.100.200.400.805.1.5.4高度规校准点如下表5.1.5.5测厚规校准点如下表Z.24.57.7W5.2检验标准:大理石平台,2级以上块规,千分尺5.3校验环境:温度(203)C,相对湿度(35-75)%RH5.4卡尺内校流程5.4.1准备工作5.4.1.1校正前戴上棉纱手套,用白电油、干净布条将校正平台与待校验卡尺之校
4、准测量面擦拭干净,并用医用棉花擦拭校正所用的标准量块测量面。5.4.1.2将清洁完毕的卡尺放置于校正平台至少2h以上,使标准量块与待校准卡尺的校验环境(温湿度)相同。5.4.2校正步骤5.4.2.1校正时,再次用医用棉花擦拭量块测量面与卡尺测量面。5.4.2.2将卡尺内外测量爪密合,卡尺朝向光源,两爪间不得有光源透过。5.4.2.3检视表针与刻度盘是否归零如没归零予以调整归零,并重复前一动作检视是否有误差。5.4.2.4归零校正后再依次拿10.00、20.00、41.20、81.50、121.8Omm的量块测量校准外测量爪,将千分尺调至10.00、20.00、41.20、50.0Omn1的量程
5、测量校准内测量爪,读取显示值并记录于内校记录表内。5.4.2.5校准完成合格后应予以卡尺适当位置标贴校验合格标签,校正超出允收标准后为不合格,于卡尺适当位置标贴“不合格标签”并注明禁用原因。5.5高度表校验流程5.5.1校正准备5.5.1.1校正前戴上棉纱手套,用白电油、干净布条将校正平台与待校验高度表校准测量面擦拭干净,并用医用棉花擦拭校正所用的标准量块。5.5.1.2清洁完后放置于校正平台至少2h小时以上,使标准量块与待校准高度表及校验环境(温湿度)相同。5.5.2校正步骤5.5.2.1校正时,再次用医用棉花擦拭量块测量面与高度表测量面。5.5.2.2清洁后将高度表测量面降至最低看是否归零
6、,如不归零则进行调整使其归零。5.5.2.3归零后依次拿1O0、2.00、3.00、4.00、5.0Omm的量块以高度表直接测量并读取测量值记录于内校记录表内。5.5.2.4校正完成合格后应予以高度表适当位置标贴校验合格标签,校验超出允收标准为不合格,于高度表相适当位置标贴“不合格标签”并注明禁用原因。5.6千分尺校验流程5.6.1校正准备5.6.1.1校正前,用医用棉花擦拭量块测量面与千分尺测量面。5.6.1.2清洁后作调整归零并检视是否有误差。5.6.2校正步骤5.6.2.1归零校正后依次拿不同量值的量块以千分尺直接测量并读取测量值记录于内校记录表内。5.6.2.2归零校正后量程为025m
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