CN114256365A-一种KNbsub3subOsub8sub纳米带、制备方法及其深紫外光电探测应用.docx
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1、CN 114256365 A权利要求书1/1页(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 CN 114256365 A(43)申请公布日2022.03.292B82Y 15/00(2011 .01)B82Y 30/00(2011 .01)(21)申请号 202111620294 .4(22)申请日 2021 .12.28(71)申请人陕西师范大学地址710119陕西省西安市长安区西长安街620号(72)发明人徐华平悦张楠楠李维杨梓萌(74)专利代理机构重庆萃智邦成专利代理事务所(普通合伙)50231代理人许攀(51)Int.CI.H01L 31/032(2006
2、 .01)H01L 31/113 (2006 .01)H01L 31/18(2006 .01)B82Y 40/00 (2011 .01)权利要求书1页 说明书5页附图5页(54)发明名称一种KNb3O8纳米带、制备方法及其深紫外光电探测应用(57)摘要本发明公开了一种KNb3O8纳米带、制备方法及其深紫外光电探测应用。采用化学气相沉积法,以研磨均匀混合的Nb2O5和KC1粉末为前驱体,云母为衬底,实现了高结晶质量KNb3O8纳米带的可控生长,其带隙达到4.15eV。采用微纳加工技术制备的KNb3O8纳米带深紫外探测器包括Si/SiO2衬底、单根KNb3O8纳米带及金属电极。器件具有良好的光电响
3、应性能和显著的偏振依赖特性,对254nm的深紫外光展现了30A/W的高响应度,及大的开关比(106)和各向异性光电流比(1 .62)o所述方法解决了高结晶质量、超宽带隙KNb3O8纳米带的制备问题,实现了偏振敏感深紫外光电探测器的构筑。1 .一种KNb3O8纳米带,其特征在于:所述KNb3O8纳米带的长度为50- 100Plm ,厚度为5-lOOnm,禁带宽度大于等于4.15eV。2 .制备权利要求1所述KNb3O8纳米带的方法,其特征在于:包括采用单温区化学气相沉积生长法,选择研磨混合的Nb2C)5和KC1作为生长KNb3C)8纳米带的前驱体,云母作为衬底,M气作为载气;所述的研磨混合方法用
4、于提供均匀混合的前驱体源,以获得高结晶质量、精准化学计量比的KNb3O8,所述氨气用于排除生长体系的空气并作为前驱体挥发的载气,所述衬底用于纳米带的生长。3 .根据权利要求2所述的制备KNb3O8纳米带的方法,其特征在于:所述Nb2O5和KC1的预设比例为2:15:lo4 .根据权利要求3所述的制备KNb3O8纳米带的方法,其特征在于:所述预设生长温度为700- 900 o5 .根据权利要求4所述的制备KNb3O8纳米带的方法,其特征在于:预设生长时间为5-30mino6 .一种基于权利要求1所述的KNb3O8纳米带的深紫外光电探测器,其特征在于:包括p型硅底栅电极、SiCh/Si衬底上的源极
5、和漏极、源极和漏极之间由KNb3C)8纳米带组成的沟道。7 .根据权利要求6所述的基于KNb3O8纳米带的深紫外光电探测器,其特征在于:所述KNb3O8纳米带的厚度为5- 30nmo8 .根据权利要求7所述的基于KNb3O8纳米带的深紫外光电探测器,其特征在于:所述源极和所述漏极为铭/金。9 .根据权利要求8所述的基于KNb3O8纳米带的深紫外光电探测器,其特征在于:所述源极和所述漏极的间距为510.权利要求6- 9任一项所述的基于KNb3O8纳米带的深紫外光电探测器的制备方法,包括:将生长的KNb3C)8纳米带通过湿化学刻蚀法转移至SiO2/Si衬底,获得取向分布均匀的KNb3O8纳米带;通
6、过电子束曝光和热蒸发沉积工艺制备金属电极,作为源极和漏极;利用去胶剂进行剥离,完成深紫外光电探测器的制备。CN 114256365 A说明书5/5页一种KNb3O8纳米带、制备方法及其深紫外光电探测应用技术领域0001 本发明涉及一种KNb3O8纳米带、制备方法及其深紫外光电 探测应用,属于低维半导体材料及器件领域。背景技术0002基于超宽带隙(4.OeV)半导体的深紫外(200- 290nm)光电探测器在光学通信、军事、化学和生物分析、环境监测和 光电器件等领域具有重要应用。此前,人们已开发了几种超宽 带隙半导体材料,如:碳化硅、钻石,氧化锡和氮化锈等应用 于深紫外光电探测器。为了满足下一代
7、高性能光电探测的需求,包括高能效、微型化、柔韧性和多功能性,急需开发一类新型的半导体活性层材料。低维半导体材料因其丰富的结构、可调的能带隙、高的载流子迁移率、强的光物质相互作用、及与硅 基半导体技术良好的兼容性,被认为是解决以上问题的理想候 选材料。然而,目前绝大部分的低维半导体材料的能带隙都相 对较小(2 .5eV),只适用于可见到红外波段的光电探测,而 不适用于深紫外波段的光电探测。只有极少几个低维宽带隙材 料(如二维的六方氮化硼、钠氧氯等)可以应用于深紫外波段 的光电探测,但其低的探测效率和有限的波长选择性阻碍了其 实际应用。0003 此外,半导体活性层对光的偏振敏感响应可以为调控光电器
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