2023电子行业深度研究报告:第三方测试快速增长测试服务及测试设备迎来发展良机.docx
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1、第三方涕试快速增长,测试服务及测试设备迎来发展良机内容目录一、半导体测试是贯穿半导体设计、生产及封测的核心步骤41、测试环节贯穿半导体生产制造,是芯片质量的把关者42、产业链专业化分工,第三方测试公司应运而生63、ChiP1et新技术及自主可控大趋势共同驱动我国半导体测试行业快速成长10二、测试机:全球市场呈双寡头垄断格局,国产化率提升空间大141、重要后道检测设备,客户粘性强且盈利水平高142、模拟及功率测试机已实现初步国产替代,SoC/存储测试机逐步突破163、需求侧:下游需求稳定及国产替代共驱我国半导体测试机市场扩容19三、探针卡:晶圆与测试机连接者,自给率低,国产替代大有可为211、探
2、针卡是晶圆测试的核心耗材,MEMS探针卡已逐渐成为主流212、探针价值量占比高,是探针卡最关键的组成部分243、竞争格局相对集中,国产化率极低26四、投资建议27五、风险提示28图表目录图表1:半导体检测设备主要分为前道量测设备和后道检测设备4图表2:晶圆制造环节主要进行过程控制检测,封测环节主要进行电性能检测5图表3:CP测试系统示意图5图表4:MaPPing示意图5图表5:FT测试系统示意图6图表6:CP与FT测试的区别6图表7:半导体制造产业精细化分工,第三方测试厂商应运而生7图表8:第三方测试厂商受半导体行业下行周期影响相对较小8图表9:第三方测试厂商测试专利数量相对较高8图表10:第
3、三方测试厂商测试相关专利占比大8图表I1集成电路测试服务产业链概况9图表12:中国大陆和中国台湾主要第三方测试企业营收情况(单位:百万元)10图表13:全球IC测试服务市场规模(单位:亿元)10图表14:中国大陆IC测试服务市场规模(单位:亿元)10图表15:ChiP1et技术相比SOC技术每个模块可以采用不同的工艺11图表16:ChiPIet提高良率和集成度,降低成本,加速芯片迭代11图表17:ChiPIe1提升芯片良率12图表18:不同芯片与ChiPIet芯片测试对比12图表19:中国大陆正在承接第三次产业迁移13图表20:2023-2023年全球共新建晶圆厂29座13图表21:中国大陆晶
4、圆产线有望扩产至原有产能2.8倍13图表22:国内主流晶圆厂及IDM厂商资本开支处于高位14图表23:半导体后道测试设备市场结构15图表24:测试机公司、封测厂商、IC设计公司形成协同生态15图表25:高毛利高投入带来盈利正循环16图表26:测试机公司毛利率高于其他半导体设备公司16图表27:爱德万、泰瑞达半导体测试设备营收规模领先17图表28:爱德万、泰瑞达半导体测试设备市场份额达65.17图表29:SoC/存储测试机市场空间领先17图表30:SoC/存储测试机市场份额合计占81117图表31:不同种类测试机区别对比18图表32:国内外各大厂商测试机性能指标对比19图表33:2023年全球半
5、导体测试设备市场规模有望达70.7亿美元,中国半导体测试设备市场占比达36.20图表34:2023年我国IC设计企业数量达3243家20图表35:2023年我国IC设计企业销售额达5345.7亿元20图表36:2023年度国产封测厂商募资扩产项目情况21图表37:探针卡是晶圆测试的核心耗材22图表38:MEMS探针卡相比悬臂式探针卡、垂直式探针卡优势显著23图表39:2DMEMS探针卡与2.5D3DMEMS探针卡参数比较24图表40:MEMS探针卡市场规模成长快、比重大24图表41:探针卡断面结构图25图表42:探针卡产业链25图表43:和林微纳已量产的用于FT测试的弹簧探针25图表44:20
6、23年全球前五大厂商共掌握探针卡市场68份额26图表45:前十大主流探针卡厂商26一、半导体测试是贯身半导体设计、生产及封测的核心步讨1、测试环节贯穿半导体生产制造,是芯片质量的把关者半导体工艺制程越来越复杂,检测设备愈发重要。随摩尔定律的进一步发展,半导体芯片晶体管密度越来越高,相关产品复杂度及集成度呈现指数级增长。新应用需求驱动了制程微缩和三维结构的升级,使得工艺步骤大幅提升,成熟制程(以45nm为例)工艺步骤数大约需要430道,到了先进制程(以5nm为例)将会提升至1250道,工艺步骤将近提升了3倍;结构上来看包括GAAFET,MRAM等新一代的半导体工艺都是越来越复杂,在数千道制程中,
7、每一道制程的检测对芯片的良率起到至关重要的作用。半导体检测根据使用的环节以及检测项目的不同,可分为前道检测和后道检测。其中,前道量测包括量测类和缺陷检测类,主要用于晶圆加工环节,目的是检查每一步制造工艺后晶圆产品的加工参数是否达到设计的要求或者存在影响良率的缺陷,属于物理性检测;后道测试根据功能的不同包括分选机、测试机、探针台,主要是用在晶圆加工之后、封装测试环节内,目的是检查芯片的性能是否符合要求,属于电性能检测。图表7:半导体检测设备主要分为前道量测设备和后道检测设备来源:前瞄研究院,国金证券研究所晶圆制造环节检测主要进行光学检测,封测环节主要进行电性能检测。半导体测试环节是避免“十倍成本
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