半导体芯片的沉积和离子注入工艺简介.docx
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1、半导体芯片的沉积和离子注入工艺简介目录1 .引言12 .晶圆薄涂层的沉积工艺13 .晶圆制造设备24 .薄膜沉积25 .离子注入:将硅片变成半导体56 .热处理(氧化/扩散/退火)91 .引言半导体芯片由许多比指甲还小、薄如纸的微观层组成。半导体堆叠得又高又实,形成类似于高 层建筑的复杂结构。为了形成这种结构,光刻一一包括在单晶硅(Si;单晶硅,半导体原料)晶圆的 顶部分阶段涂上薄膜并绘制电路,蚀刻一一选择性地去除不需要的材料,并清洗步骤重复多次。在 蚀刻和清洁过程之后,薄膜分隔、连接和保护电路。现在,我们将研究制作薄膜的沉积过程和赋予 半导体电特性的一系列过程。2 .晶圆薄涂层的沉积工艺术语
2、“薄膜”指的是1微米或更薄(m,百万分之一米)的薄膜;这种厚度无法通过简单的机械加 工来实现。沉积是指在晶片上以所需的分子或原子水平淀积薄膜的一系列过程。因为涂层很薄,所 以需要精密、准确的技术才能将薄膜均匀地淀积在晶圆上。Passivation Protection Layer图1沉积的半导体结构沉积大致可分为两种类型。两种类型是物理气相沉积(PVD)和化学气相沉积(CVD)。PVD主要用 于沉积金属薄膜,不伴随化学反应。同时,CVD涉及将外部能量施加到由气体的化学反应形成的粒 子蒸气。蒸汽被喷向表面进行沉积。该技术可用于将薄膜沉积到导体、绝缘体和类似的半导体上。 CVD是当前半导体工艺中使
3、用最广泛的沉积方法。根据所使用的外部能源,CVD可进一步分为热 CVD.等离子CVD和光诱导CVD。其中,等离子CVD应用最为广泛,具有低温成膜、调节膜厚均 匀性、并处理大批量。通过沉积工艺形成的薄膜有两层:连接电路之间电信号的金属(导电)层,以 及电气隔离内部连接层或隔离污染物的绝缘层。3 .晶圆制造设备半导体设备通常可分为前道工艺设备(晶圆制造)和后道工艺设备(封装测试)两大类。前道工艺对应的晶圆制造中的七大步骤分别为热处理(氧化/扩散/退火)、光刻、刻蚀、离子注 入、薄膜沉积、清洗、抛光。此外还有金属化和量测,只有量测合格的芯片才会进入到后道封测环 节。根据SEMl数据,全球晶圆制造设备
4、市场规模整体成稳步增长的态势,2020年达到586.7亿美 元,同比增长19.0%。图表13:全球晶圆制造设备销售额(亿美元)4 .薄膜沉积薄膜沉积是半导体器件制造过程中的一个重要环节,通过薄膜沉积工艺可以在晶圆上生长出各 种导电薄膜层和绝缘薄膜层,为后续工艺打下基础。根据工作原理不同,薄膜沉积工艺可分为物理 气相沉积(PVD)、化学气相沉积(CVD)和原子层沉积(ALD)三大类,所需的设备是薄膜沉积设备。PVD:是指是用物理的方法使镀膜材料气化,在基体表面沉积成膜的方法,主要有蒸镀、溅射 和离子镀等。特点是沉积材料纯度佳、品质稳定、温度低、速度快、制造成本较低。主要用于金属 薄膜的沉积。其中
5、,蒸镀是在真空环境中把蒸镀材料加热熔化后蒸发,使其大量原子、分子、原子 团离开熔体表面,凝结在工件表面上形成镀膜。溅射是用高能粒子(通常是由电场加速的正离子)冲 击固体表面,固体表面的原子、分子与这些高能粒子交换动能,从而由固体表面飞溅出来,飞溅出 来的原子及其他离子在随后过程中沉积凝聚在工件表面形成薄膜镀层,称为溅射镀膜。离子镀是在 真空条件下,利用气体放电使气体或被蒸发物质离子化,在气体离子或蒸发物质离子轰击作用下, 把蒸发物质或其反应物蒸镀在工件上。CVD:是指在真空高温条件下,两种或两种以上的气态原材料导入到一个反应室内,气态原材 料相互之间发生化学反应,形成一种新的材料,沉积到晶片表
6、面上。特点是用途广泛、不需要高真 空、设备简单、可控性和重复性好、适合大批量生产。主要用于介质/绝缘材料薄膜的生长。包括 低压CVD(LPCVD)、常压CVD(APCVD)、等离子体增强CVD(PECVD)、金属有机物CVD(MoCVD)、 激光 CVD(LCVD)等。ALD: ALD是一种可以将物质以单原子膜形式一层一层的镀在基底表面的方法,是一种原子尺 度的薄膜制备技术,本质属于CVD的一种,特点是可以沉积均匀一致,厚度可控、成分可调的超薄 薄膜,ALD方法既可以沉积介质/绝缘薄膜,也可以进行金属薄膜的沉积。随着纳米技术和半导体 微电子技术的发展,器件和材料的尺寸要求不断地降低,同时器件结
7、构中的宽深比不断增加,这样 就要求所使用材料的厚度降低至十几纳米到几个纳米数量级。相对于传统的沉积工艺,ALD技术具 有优异的台阶覆盖性、均匀性和一致性,可沉积宽深比达2000:1的结构,因此逐渐成为了相关制 造领域不可替代的技术,具有很大发展潜力和应用空间。ALD件通的CVDPVD鹏”他圉20nm20nm均匀UI控性OJnmInm5nm成腴质a化学成分很均 轻微空隙杂版化学成分设均 轻微空阻杂随受外界限制 行纥多空1杂陋保形性很好较好一般粒广数少多多可延收性无限制9065nmIOOnm空啜篌求中等中等高沉枳逢半抵高高图表55: 3种冠腆沉枳方法对比直料来源:清华大学.五究所图表56: WD原
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