太阳能电池基本参数的影响因素分析.docx
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1、太阳能电池基本参数的影响因素分析L短路电流Isc2 .开路电压Voc3 .最大工作电压Vm4 .最大工作电流Im5 .填充系数FF6 .转换效率n7 .串联电阻RsI = Il-Id =IL-Isexp(qV/kT)-l、丁 kT Ij IV =ln(-1- 1)qiskTTqisIl光生电流;Id暗电流;Is= Aq (吟卜今)反响饱和电流;(1)短路电流Isc=Il光强度图2. 37短路电流和开路电压随着光强度的变化第一、一个理想的光伏电池,因串联的Rs很小、并联电阻的Rsh很大,所以进行理想电路计算时,他们都可忽略不计。所以负载电流满足式(1),8 .并联电阻RshRs串联电阻;Rsh并
2、联电阻所以根据上式,就会得到右图。第二、但在实际过程中,就要将串联电阻和并联电阻考虑进去,Isc的方程如下:q(V+1Rs)e kT -1V +1%Rm当负载被短路时,V=o,并且此时流经二极管的暗电流Id非常小,可以忽略,上式可变为:J -I 旦=/ -1 L 1SC r. 1 SC 第三、由此可知,短路电流总小于光生电流II且Isc的大小也与Rs和Rsh有关。1 .短路电流Isc当V=0时,Isc=h。Il为光生电流,正比于光伏电池的面积和入射光的辐照度。lcm2光伏电池的L值均为1630mA。环境温度的升高,Il值也会略有上升,一般来讲温度每升高1, Il值上升78 HA2 .开路电压V
3、oc开路时,当1=0时,Voc=kT/qln(k/Is+l)太阳能电池的光伏电压与入射光辐照度的对数成正比,与环境温度成反比,与电池面积的大小无关。温度每上升1 ,UOC值约下降23mV。该值一般用高内阻的直流毫伏计测量。同时也与暗电流有关。而对太阳能电池而言,暗电流不仅仅包括反向饱和电流,还包括薄层漏电流和体漏电流。(由于杂质或缺陷引起的载流子的复合而产生的微小电流)漏电流:太阳能电池片可以分3层,即薄层(即N区),耗尽层(即PN结),体区(即P区),对电池片而言,始终是有一些有害的杂质和缺陷的,有些是材料本身就有的,也有的是工艺中形成的,这些有害的杂质和缺陷可以起到复合中心的作用,可以虏获
4、空穴和电子,使它们复合,复合的过程始终伴随着载流子的定向移动,必然会有微小的电流产生,这些电流对测试所得的暗电流的值是有贡献的,由薄层贡献的部分称之为薄层漏电流,由体区贡献的部分称之为体漏电流。3 .填充系数FFFF是一个重要参数,反映太阳能电池的质量。太阳电池的串联电阻越小,并联甩阻越大,填充系数越大。反映到太阳电池的电流-电压特性曲线上是曲线接近正方形,此时太阳电池可以实现很高的转换效率式中,Pin为入射功率,是太阳能光谱中所有光子的积分;F为填充因子。(3.9)F= AnVmZscVoc显然,要使太阳电池的效率达到最大,F、Isc和都应该达到最大。在室温300K和大气质量AM1时,入射功
5、率Pin = 100mW/cm2,则太阳电池的效率7/= FI SCVOC(3. 10)此时,硅等太阳电池的理想效率如图3.5所示。3.4太阳光照射下的p-n结太阳电池的简化曲线图3.5 300K、大气质量AM1时,太阳电池的理想效率(c=l和C=1000分别指聚光度为1个太阳和聚光度为1000个太阳)4 .转换效率HP I V FFI V_ _ m _ m in _ sc ocn -Pin Pm Pin根据上式可得:填充系数越大,即转换效率越大。因此,影响n的主要因素为串联电阻和并联电阻综上所述,影响Voc、Isc、Vm、Im、FF和n的主要因素就是串联电阻和并联电阻。二、串联电阻Rs和并联
6、电阻RshL串联电阻Rs 一般小于1。,主要包括金属电极与半导体材料的接触电阻、半导体材料的体电阻和电极电阻三部分。棚栅 R/0 0123456效御/%14.1089 10.9527 8.1559 6.0859 4.75213.8768 3.2680串联电阻图2效率对串联电阻的拟合曲线2 .并联电阻Rsh 一般为几千欧姆,主要是电池边缘漏电、电池表面污浊或耗尽区内的复合电流引起的,这几种电流构成了漏电流。而且并联电阻越大,漏电流也就越小。3 .前段工艺对Rs和Rsh的影响3.1 CVDP层:P层如果太厚,造成了 P层对光的吸收增加,从而减少了 i层对光的吸收,而且由于空穴的扩散速率较低,使得空
7、穴的寿命降低;但是P层太薄,在界面层产生的电子-空穴对还没有扩散出去就会由于复合而消失,不利于载流子的收集,增加能量损失。Buffer 层:当缓冲层厚度较薄时,晶格失配问题得到初步改善,从而减少了载流子在界面的复合,因而随着沉积时间的增加,电池的开路电压增加,填充因子也得到较大的改善,电池效率增加。但是,随着沉积时间继续增长,由于没有掺硼,掺碳的缓冲层电阻升高,较厚的缓冲层虽然解决了晶格失配的问题,但是高阻层成为主要矛盾,所以随着掺碳缓冲层厚度的继续增加,填充因子下降,电池性能变差。84828.07 87.674 10 20 30 4050 60 7080 90Bufier layer dep
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