电子产品及元器件可靠性老化筛选规定-目录.docx
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1、Q/XXX X X X 有限公司企业标准Q/XXX 462-20XX代替 Q/XX 491-20XX电子产品及元器件可靠性老化筛选规定20XX-06-01 发布20XX-07-01 实施XXXX有R艮公司发布QXX017-20XX前言II1 .目的错误!未定义书签。2 .范围错误!未定义书签。3 .规范性引用文件错误!未定义书签。4 .术语和定义错误!未定义书签。5 .材料、工具、设备错误!未定义书签。5.1 印制板错误!未定义书签。5 . 2 j- -L错误!未定义书签。6 . 3回流焊接错误!未定义书签。7 . 4波峰焊接错误!未定义书签。8 .装配准备错误!未定义书签。9 .操作错误!未
2、定义书签。9.1 J- -/f*i错误!未定义书签。9.2 流水线作业与自动焊接错误!未定义书签。10 检验错误!未定义书签。附录A (规范性附录)元器件切脚成形标准15附录B (规范性附录)部品倾斜、浮起标准16附录C (规范性附录)部品偏移判定基准17附录D (规范性附录)焊点图例19附录E (规范性附录)SMT新品首件确认表21附录F (规范性附录)波峰焊生产线新品首件确认表22-Z,e a刖 s本标准是依据国家相关标准及企业标准编写、修订的要求制定的。其目的在于规范企业标准结构、格式统一的编写规则。本标准主要参照GB/T 1.1-20XX标准化工作导则 第1部分:标准的结构和编写规则,
3、参阅各类标准的版本、结构样式及相关文献,结合企业的实际情况而制定的,考虑到在制定过程中有些细则不够完善,可参考和沿用国家相关标准。本标准由XX有限公司提出;一一本标准由XX有限公司批准;一一本标准由XX有限公司标准化室归口;本标准起草单位:XX有限公司研发中心;本标准主要起草人:XXoIIXXX有限公司企业标准电子产品及元器件可靠性老化筛选规定 Q / XXX 462 - 20XX代替 QXX491 -20XX1目的为了规范电子产品及元器件可靠性老化筛选符合产品设计要求特制订本企业标准。2范围本标准规定了电子产品高温老化试验及外购电子元器件进厂后,进行可靠性老化筛选的项目、条件及筛选后的检查、
4、处理。剔除早期失效的器件,提高产品的可靠性。本标准适用于所有装有电子元器件的产品,除非产品另有规定。3依据标准电子产品及元器件可靠性老化筛选的检查,均应以设计文件中规定的产品标准(国家标准、行业标准或企业标准)为依据,无产品标准的应由设计人员提出老化筛选项目、条件及要求。4老化筛选项目及条件4.1 半导体器件、集成电路4.1.1 低温贮存:非工作状态下,将器件贮存在温度一253C的低温箱中,保持4h,常温下测试电参数。4.1.2 高温贮存:非工作状态下,将器件贮存在温度+ 1253C的高温箱中,保持4h,常温下测试电参数。4.2 继电器4. 2.1低温运行:将继电器置于温度一253C的低温箱中
5、,保持1h,通电工作后测量低温下的释放电压,然后在此低温下,触点回路中加阻性负载,以25次s的速率动作200次后,检测每对触点的接触电压或接触电阻。4.2.2高温运行。将继电器置于温度+ 703C的高温箱中,保持1h,通电工作后测量高温下的释放电压,然后在此温度下触点回路中加阻性负载,以25次s的速率动作200次后,检测每对触点的接触电压或接触电阻。Q/XX 017-20XX注:以上筛选设备条件如暂时不具备时,可由工艺人员根据现有设备条件实施。5筛选检查5.1元器件老化筛选由工艺人员编制筛选工艺,规定老化筛选程序、使用设备、测量仪器、工艺装置及操作、检测方法和要求。5. 2检验种类对进行老化的
6、元器件实行全检。5.3检验电性能的项目5.3.1 电阻器5. 3.1.1电阻器的额定功率电阻器的额定功率系指电阻器在直流或交流电路中,当大气压力为75030rnHg,在产品标准中规定的温度下,长期连续负荷所允许消耗的最大功率。所选用电阻的额定功率应是该电阻实际承受功率的L 52倍。5. 3.1.2电阻器新用材料及代表符号材料碳膜金属膜金属氧化膜氧化膜合成膜线绕有机实芯无机实芯沉积膜符号TJYGYHXSNC5. 3.1.3电阻器色圈标志代表的意义5. 3.1.4电阻器允许偏差的标志符号允许偏差(%)0. 050. 10. 25+ 0.51251020+ 30标志符号WBCDFGJKMN5. 3.
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