T5车载方案软硬件稳定性检查checklistV1.0.docx

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1、AllwinnerT507车载方案软硬件稳定性检查Checklist文档版本FOl文档类型FAQ文档发布日期2020-1-15版权版权所有珠海全志科技股份有限公司2019-2020o保留一切权利。非经本公司书面许可，任何单位和个人不得擅自摘抄、复制本文档内容的部分或全部，并不 得以任何形式传播。商标声明、冬rJJLAllwinnertech Allwinner全志和其他全志商标均为珠海全志科技股份有限公司的商标。本文档提及的其他所有商标或注册商标，由各自的 所有人拥有。注意您购买的产品、服务或特性等应受全志公司合同和条款的约束，本文档中描述的全部或 部分产品、服务或特性可能不在您的购买或使用范

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4、20/1/15增添常规硬件检查章节目录版权2前言3目录41. 常规硬件检查52. VDD_CPU静态负载下电压检测83. VDD_CPU动态负载电压检测94. DDR类问题检查105. 产品稳定性实验121.常规硬件检查典型测试场景：主界面检查项目测试结果备注15V总电源检查系统工作的功耗NA5V电压&纹波&跌落NA2电源检查PMU各路DCDC/LDO推荐电压精度&纹波&噪声电压&纹波&噪声&电压跌落VCC-IO3.3V10%& W5%& 10%VDD-CPU0.88V-1.10V& 10%NADC值需要考V-F表VDD-SYS0.96V3% & W5%& 10%VCC-DRAM1.5V5%

5、& W6%& 10%DDR31.35V(1.283V1.45V)& 6% &10%DDR3L1.2V(LI4V1.26V)& 6% &10%LPDDR3&DDR4LlV(LO6V1.17V)& 6% &10%LPDDR4VPP-DRAM2.5V(2.35V2.75V)& 6% &10%仅限DDR4AVCC&VCC-PLL&VDD18-DRAM1.8V2%& Wl%& 1.5%其它外设 电源具体电源标准请参考外设需 求本项只填写异常外设电压5原理图检查T507硬件设计指南V1_O自检是否 通过？列出没有通过的设计点并评估风 险。使用的DDR原理图模板是否是官方发布最新版本批量量产前需 要确认模板

6、是 否已经调试验 证，达到T/S状 态6PCB检查T507_PCB Design_CheckIiSLVI.X自 检是否通过？列出没有通过的设计点并 评估风险。使用的DDR PCB模板是否是官方发布最新版本批量量产前需 要确认模板是 否已经调试验 证，达至U s状 态VDD-CPU电源走线是否满足设计要求VDD-SYS电源走线是否满足设计要求VCC-DRAM电源走线是否满足设计要求7重要元件 检查DDR型号是否属于AVL支持列表中的型号？如果不在支持 列表，请写出具 体型号。FLASH型号是否属于AVL支持列表中的型号？如果不在支持 列表，请写出具 体型号注意：1 .跌落电压不得低于上述各电源要

7、求的最低电压，CPU的最低工作电压为V-F表配置的各档位电压值;2 .以上电压测量推荐的典型测量场景为主界面，如遇到系统稳定性问题时，需要在具体发 生的场景测试异常样机的各路电源的静态电压值，以及样机从正常状态转变为异常状态的动态 过程电压测量值，动态过程正常主要是为了观察电压是否有过冲、跌落等异常电源波形；2. VDD,CPU静态负载下电压检测典型测试场景：Uboot阶段轻载VDD_CPU电压输出系统启动到Uboot Shen后,测试CPU电压。电压预期测试结果cpu电压vdd_cpu=l. Ov3. VDD_CPU动态负载电压检测典型应用场景：播放108OP高清码流在超级终端输入下列命令定

8、频后测试VDD_CPU电压，定频的具体操作方法:整置CPUecho userspace sysdevicessystemcpucpuOcpufreqscaling-governor/*设置 CPU 测试频率，如 IOo8000=1008MHZ*/echo 1008000 sysdevicessystemcpucpucpufreqscaling-setspeed/*查看设置CPU频率操作是否生效*/cat /sys/devices/system/cpu/cpuO/cpufreq/cpuinfo_cur_freq步骤设置频率预期cpu电压实测cpu电压14080000.82V2816000O.88

9、V310080000.94V412000001.02V514160001.10V注:动态负载：指CPU运算负载存在大幅度波动，变化较为剧烈;4. DDR类问题检查步骤检查内容检查结果备注1DDR驱动版本是否为SDK发布时版本？2DDR的配置参数是否与所使用的DDR模板相对应？3如果是自行设计的DDR模板，或者是非正 规物料，DRAM配置参数是否有做优化适 配？4MemteSt稳定性测试是否通过？测试频率是 多少?测试样机和测试时间是多少？5DDR当前量产工作频率MHz?故障现象？6DDR降低频率后是否正常MHz?正常？测试说明：L优先确认测试固件的ddr驱动版本号是否最新，驱动版本号对应的dd

10、r Para参数是否匹配2 .使用全志原厂提供的dragon HD工具进行老化测试3 .以上两种方式均无问题，基本可以排除焊接问题（颗粒焊接正常与否）4 .系统运行异常情况下，如果对DDR进行降频复测不复现问题,则怀疑DDR可能存在性能问题, 可在老化测试过程中增加memtester测试，通过memtester检查是否存在DDR异常报错。5,系统休眠唤醒存在异常，则需要打开CRC校验测试。6 .硬件可以通过确认DRAM眼图测试结果，确认硬件是否异常。7 .DDR供电纹波测试（VDD_DRAM为例），注意：需要选择靠近管脚的电容，示波器表笔接地最 小环路，选择交流耦合，测试得波形的峰-峰值为纹波值。示例如下所示：1） .跌落测试（VDD_DRAM为例）注意：示波器表笔下降沿触发2） .用示波器表笔测得VDD_DRAM=1. 06V,跌落值选择跌至1. 04V5产品稳定性实验步骤实验对象实验结果备注1休眠唤醒测试是否通过？说明测试样机数 量、测试时间、工作环境温度。2reboot测试是否通过？说明测试样机数量、 测试时间、工作环境温度。3高低温可靠性测试是否通过？说明测试样 机数量、测试时间、工作环境温度与湿度。