电子元器件行业深度分析精品.docx
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1、1.3. CMP材料具有较高的技术壁垒和客户认证壁垒231.4. CMP抛光液:日美厂商垄断,种类繁多催生差异化竞争机遇271.5. CMP抛光垫:陶氏一家独大,鼎龙率先突围344 .相关公司374.1. 华海清科:国内唯一12英寸CMP设备商,市占率稳步提升374442鼎龙股份:国内CMP抛光垫龙头,光电半导体材料业务高速放量4.3. 安集科技:国产CMP抛光液龙头,打造电子材料平台型企52485 .风险提示5.1. 市场竞争风险5252产品开发不及预期525.3. 下游需求衰减523硅通孔(TSV放术、扇出(Fan-Out技术、2.5D转接板(interpose r3D IC等封装技术中对
2、引线尺寸要求更小更细,因此会引入刻蚀、光刻等工艺,而CMP作为每道工艺间的抛光工序,也得以广泛应用于先进封装中。如果晶圆制造过程中无法做到纳米级全局平坦化,既无法重复进行光刻蚀、薄膜和掺杂等关键工艺,也无法将制程节点缩小至纳米级的先进领域。随着超大规模集成电路制造的线宽不断细小化,制造工艺不断向先进制程节点发展,平坦化的精度要求也不断提高,CMP步骤也会不断增加,从而大幅刺激了集成电路制造商对CMP设备的采购和升级需求。图2:先进封装工艺流程1 先进封装工艺流程-1 、一制作通孔绝缘层/阻挡层淀积金属填充CMP L背面诚薄键合图3: CMP平坦化效果困资料来源:华海洽科招收书.安尔证柞研究中心
3、图4: CMP与传统方法的抛光去除速率对比资料来源:华海清科招股书.安代证奉研究中心1.2. CMP工艺技术原理CMP设备主要依托CMP技术的化学-机械动态耦合作用原理,通过化学腐蚀与机械研磨的协同配合作用,实现晶圆表面多余材料的高效去除与全局纳米级平坦化(全局平整落差5nm以内的超高平整度)。CMP抛光过程可以分为化学过程和物理过程。化学过程指:研磨液中化学成分与硅片表面材料产生化学反应,通过将不溶物转化为易溶物或软化高硬度物质,生成比较容易去除的物质。物理过程指:研磨液中的磨粒与硅片表面材料发生机械物理摩擦,从硅片表面去除这些化学反应物,溶入流动的液体中带走。图5: CMP抛光模块示意图图
4、6: CMP抛光作业原理图研星口粉图3: CMP平坦化效果困资料来源:华海洽科招收书.安尔证柞研究中心图4: CMP与传统方法的抛光去除速率对比资料来源:华海清科招股书.安代证奉研究中心1.2. CMP工艺技术原理CMP设备主要依托CMP技术的化学-机械动态耦合作用原理,通过化学腐蚀与机械研磨的协同配合作用,实现晶圆表面多余材料的高效去除与全局纳米级平坦化(全局平整落差5nm以内的超高平整度)。CMP抛光过程可以分为化学过程和物理过程。化学过程指:研磨液中化学成分与硅片表面材料产生化学反应,通过将不溶物转化为易溶物或软化高硬度物质,生成比较容易去除的物质。物理过程指:研磨液中的磨粒与硅片表面材
5、料发生机械物理摩擦,从硅片表面去除这些化学反应物,溶入流动的液体中带走。图5: CMP抛光模块示意图图6: CMP抛光作业原理图研星口粉抛光垫、钻石碟、清洗液等,对CMP工艺效应均有关键影响。1.CMP抛光垫:主要作用是储存和运输抛光液、去除磨屑和维持稳定的抛光环境等;2. CMP抛光液:是研磨材料和化学添加剂的混合物,可使晶圆表面产生一层氧化膜,再由抛光液中的磨粒去除,达到抛光的目的。3. CMP钻石碟:是CMP工艺中必不可少的耗材,用于维持抛光垫表面一定的粗糙状态,通常与CMP抛光垫配套使用。4. CMP清洗液:主要用于去除残留在晶圆表面的微尘颗粒、有机物、无机物、金属离子、氧化物等杂质,
6、满足集成电路制造对清洁度的极高要求,对晶圆生产的良率起到了重要的作用。图8: CMP工艺上下游上游原材料中游制造CMP材料CMP设备表面活性剂袁化剂fflx下游产品资料来源:新材料在我,安信证券研究中心CMP设备是CMP技术应用的载体,集摩擦学、表/界面力学、分子动力学、精密制造、化学化工、智能控制等多领城最先进技术于一体,是集成电路制造设备中较为复杂和研制难度较大的设备之一。同时,由于铜连线在微处理器生产中广泛引用,因此唯一能够抛光铜金属层的CMP设备更成为芯片制造厂商必需的重要工具。CMP设备主要分为抛光部分和清洗部分,抛光部分由抛光头、研磨盘等组成,清洗部分由清洗刷、供液系统等组成抛光头
7、:通常具有真空吸附装貉用于吸附晶圆,防止晶圆在抛光过程中产生位移,同时向下施加压力。研磨盘:起到对晶圆的支撑作用,承载抛光垫并带动其转动并对抛光头压力大小、转动速度、开关动作等进行控制。清洗刷:用于CMP后清洗环节,在CMP后去除颗粒和其他化学污染物,分为清洁一冲洗一干燥环节,保证晶圆干进干出。终点检测设备:终点检测设备用于检测CMP工艺是否把材料磨到正确的厚度,避免过薄(未起到抛光作用)及过厚(损失下层材料)带来的负面影响,通常使用电性能及光学两种测量方式图9: CMP设备结构图修辰X光液修整31资料来源:华海清科招股书,安信证券研究中心1.4.先进制程推进带动CMP设备及材料需求当前CMP
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