基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分二极管_SJT 11845.3-2022.docx
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1、ICS31.080.10CCS141中华人民共和国电子行业标准SJ/T11845.32023基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法第3部分:二极管Re1iabi1ityeva1uationmethodsfore1ectroniccomponentsanddevicesbasedon1owfrequencynoisePart3:Diode2023-10-20发布2023T)I-01实施中华人民共和国工业和信息化部发布前言11范围12规范性引用文件13术语和定义14一般要求15详细要求15.1 噪声等级15.2 噪声测试的技术要求15.3 评价方法26方法应用36.1 设计及工艺稳定性评价36
2、.2 批次一致性分析及解选3本文件按照GB/T1.1-2023标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则的规定起草。本文件是基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法的第3部分。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本文件由基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组提出并归口.基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法第3部分:二极管1范围本文件规定了用于稳压二极管(以下简称器件)可靠性评价的低频噪声参数、评价方法及方法应用。本文件适用于用于稳压二极管(以下简称器件)可靠性评价的低频噪声参数评价方法及方法应用。2规范性引用文件下列文件中
3、的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,仅该口期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。SJ/T11767-2023二极管低频噪声参数测试方法SJ/T11769-2023电子元器件低频噪声参数测试方法通用要求SJ/T11845.1-2023基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法第1部分:通用要求3术语和定义SJ/T117672023XSJ/T117692023和SJ11845.12023确立的术语和定义适用于本文件。4一般要求本文件依据是否出现爆裂噪声决定采用不同的检验周期及是否需要噪声分级。如需要噪声分
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