DFNEA评价准则全套.docx

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1、DFNEA评价准则全套一、目的规范严重度、频度和探测度的评价准则。二、范围适用于DFMEA三、术语严重度：一个给定失效模式最严重的影响后果的级别。频度：一特定的起因/机理发生的可能性。探测度：与过程控制中最佳探测控制相关的定级数。四、评价准则严重度数评价准则（S）后果评定准则：后果的严重度严重度严重度无警告的危害这是一种非常严重的失效形式，它是在没有任何预兆的情况下影响到分子筛产品质量的有关章程10有警告这是一种非常严重的失效形式，是在具有失效预兆的情况下9的危害影响到分子筛产品质量的有关章程很高分子筛产品质量受损严重，丧失基本功能8高分子筛产品具备一定性能，但数据指标不合格，顾客不满意7中等

2、分子筛产品具备一定性能，数据指标合格，但性能下降6(10%15%),顾客感觉不舒服低分子筛产品具备一定性能，数据指标合格，但性能略有下降5(5%10%),顾客感觉有些不舒服很低外观、包装等项目不符合要求，大多数顾客能发现有缺陷4轻微外观、包装等项目不符合要求，有一半顾客能发现有缺陷3很轻微外观、包装等项目不符合要求，很少顾客能发现有缺陷2无无影响1频度数评价准则(O)失效的可能性可能的失效率频度很高，失效几乎是不可避免的100W1OOO批1050批/1000批9高，反复发生的失效20批/1000批810B/1000批7中等，偶尔发生的失效5批/1000批62批/1000批51批/1000批4低

3、，相对很少发生的失效0.5批/1000批30.1批/1000批2很低，失效不太可能发生0.01批/1000批1探测度评价准则（D）探测性评定准则：后果的严重度严重度不易探绝对不肯定设计控制将不能和/或不可能找出潜在的原因/机理及后续的失效模式，或根本没有被设计控制10很极少设计控制只有很极少的机会能找出潜在的原因/机理及后续的失效模式9极少设计控制只有极少的机会能找出潜在的原因/机理及后续的失效模式8很少设计控制有很少的机会能找出潜在的原因/机理及后续的失效模式7少设计控制有较少的机会能找出潜在的原因/机理及后续的失效模式6中等设计控制有中等的机会能找出潜在的原因/机理及后续的失效模式5中上设计控制有中上多的机会能找出潜在的原因/机理及后续的失效模式4多设计控制有较多的机会能找出潜在的原因/机理及后续的失效模式3很多设计控制只有很多的机会能找出潜在的原因/机理及后续的失效模式2几乎肯定设计控制几乎肯定能找出潜在的原因/机理及后续的失效模式1管理说明：RPN（风险顺序数）=S（严重度数）（频度数）XD（不易探测度）下列情形须采取进一步措施，如：RPN50;S8o