超声检测模拟判断题.docx
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1、第一部分判断题(在每题前面括号内打“X”号表示错误,打“J”表示“正确)1.超声检测既可以检测工件表面缺陷,也可以检测工件内部缺陷。)2.位移随时间的变化符合余弦规律的振动称为谐振动。)3.超声波在理想介质中的传播,其本质是物质和菖缰同时进行传播。)4.只要有初始振动的波源,机械振动就可以传播。)5.从公式C=入f可以看出,声速C与频率f成正比,因此高频时的超声波传播速度比低频时大。)6.质点完成五次全振动所需要的时间,可以使超声波在介质中传播五个波长的距离。)7.由于入Xf,声速一定时,频率越高,波长越短。)8.纵波是指质点的振动方向与波的传播方向垂直的波型。)9.超声横波能在固体、液体和气
2、体介质中进行传播。)10.在空气中不仅能传播纵波,也能传播横波。)11.横波不能在液体中传播,因此横波探伤时,不能使用液体耦合剂。)12.球面波振幅与距离成反比。)13.球面波振幅与距离的平方根成反比。)14.柱面波振幅与距离成反比。)15.平面波振幅与距离成反比。)16.在超声检测中最常用的超声波是连续波。)17.对脉冲波,脉冲越短,则频带越宽。)18.相同条件下,同一固体介质中,纵波、横波、表面波的传播速度均为常数。)19.同一固体介质中,声速与波型无关。)20.声速是声能量传播的速度。)21.声速是介质中质点振动的速度。)22.声速是介质中质点按波的方向移动的速度。)23.垂直线性良好时
3、,超声检测仪荧光屏上脉冲的高度与声压成正比。()24.声强与声压的平方成正比。()25.声压与声强的平方成正比。()26.在同一固体材料中,传播纵波和横波时的声阻抗相同。()27.有限尺寸平面状波源发出的超声波,在声源附近声压出现极大值和极4能是由于干涉现象造成的。()28.波阵面的位置和形状随时间的变化,可用惠更斯原理进行解释。()29.散射和衍射是超声波单独具有的特性。()30.频率相同时,同种介质中障碍物尺寸越大,衍射越强。()31.超声波在介质中传播碰到障碍物时,散射和衍射的强弱,与声速有关。()32.波长与障碍物尺寸的相对大小,决定了背嫂寸和衍射的强弱。()33.超声波垂直入射时,界
4、面两侧介质声阻抗相差愈小,声压往复透过率愈高。()34.超声波垂直入射到两种介质的界面上,可能会发生波型转换。()35.超声波垂直入射到异质界面上,声压反射率与介质的声阻抗和声速有关。()36.当钢中的气隙(如裂纹)厚度一定时,超声波频率增加,反射波高也随着增加。()37.灵敏度试块表面和反射体位置是否清洁,对探伤结果会产生影响。()38.只有当第一介质为固体介质时,才会有第三临界角。()39.超声波倾斜入射到异质界面时,同种波型的折射角总大于入射角。()40.超声波入射到曲界面时,反射波是聚焦还是发散,与界面两侧介质的声速有关。()41.为了在试件中得到纯横波,余瞬头透声斜楔材料的纵波速度应
5、大于被检试件中的纵波速度。()42.倾斜入射的超声纵波在异质界面上发生反射时,反射中必定会分离出反射纵波与反射横波O()43.球面波声压与距离成正比。()44.球面波声压与距离的平方根成反比。()45.柱面波声压与距离成反比。()46.平面波声压是恒量。()47.超声波平面波不存在材质衰减。()48.超声波在传播中,声阻抗越大,衰碘严重。()49.选用越高的频率探测,有利于发现越大的缺陷,而且声衰趣小()50.频率相同时,声源直径越大,近场长度越小。()51.相同尺寸的声源,频率越高,近场长度越大。()52.频率相同时,声源直例大,指向角越小。()53.相同尺寸的声源,频率越高,指向角越大。(
6、)54.频率和晶片尺寸相同时,横波声束指向性不如纵波好。()55.频率和晶片尺寸相同时,横波声束指向性比纵波好。()56.同一探头在钢中的近场长度N要比在水中的近场长。()57.超声波声场的近场长度愈短,声束指向性愈好。()58.斜角探伤横波声场中假想声源的面积小于实际声源面积。()59.声源辐射的超声波的能量主要集中在主声束内。()60.由于在远场区超声波声束会扩散,所以探伤应尽可能在近场区进行。()61.实用AVG曲线只适用于特定材料和特定尺寸、特定频率的探头。()62.模拟型A型脉冲反射式超声检测仪,读取回波位置时,可以读前沿,也可以读波峰处对应的水平刻度。()63.数字式仪器信号的同步
7、控制,是由微处理器通过程序控制的。()64.数字式仪器模数转换的采样频率,不会引起信号的失真。()65.数字仪器的显示刷新频率与脉冲重复频率不一致时,也能保证所有信号得到显示。()66.仪器的水平线性误差会影响对缺陷的定量。()67.仪器的水平线性误差会影响对缺陷的定位精度。()68.仪器的垂直线性误差会影响对缺陷的定位精度。()69.仪器的动态范围越小,则垂直线性越好。()70.超声波探伤仪的脉冲重复频率越高,探伤频率也越高。()71.余株头的K值,在探测任何材料时,其值保持不变。()72.探头的主声束偏斜角,对缺陷的定位和定量均无影响。()73.斜探头的入射点,是缺陷定位的基准点。()74
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